日本电子午间研讨会

时间
12:00~13:00(入场11:50~)
Conference Topic
Introduction of Modern SEMs and sample preparation method by Cross section polisher™
新型SEM及Cross section polisherTM截面抛光仪制样方法介绍
Speaker Info
Tan Teck Siong
Sales Director
JEOL ASIA PTE.LTD.
陈德祥
销售总监
捷欧路亚洲有限公司

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