Aster科技已确认参展NEPCON China 2021

可靠性是产品最重要的性能要求之一。对企业而言,高可靠性的产品能为企业节省大量的维修成本,保障企业长期高效运转。今天我们隆重介绍一家法国电路板级可测试性分析工具的领先供应商——Aster科技有限公司,在电路板可测试性方面具有可靠的专业知识和强大的客户关系。

 

Aster科技成立于1993年,Aster Technologies的业务开始于在电子设计和PCBA生产市场开发的一套互补产品,自2008年以来,Aster Technologies总部已注册为研究和高等教育部认证的研究实验室。目前业务范围包括:

 

  • 设计和开发与设计,测试和质量管理相关的新产品。Aster不断开发新产品并增强现有产品的同时,包括独立支持中心,分销商和增值经销商(VAR)在内的50多名专家还为Aster在全球的安装基地提供支持。

  • 提供有关可测试性审查,测试范围估计和测量,边界扫描测试开发和BSDL验证的服务。

     

 

据悉,Aster科技已确定参加NEPCON China 2021(第三十届中国国际电子生产设备暨微电子工业展览会),展位号:1N23,展会将于2021年4月21-23日在上海世博展览馆隆重开幕。届时,Aster科技将隆重推出其产品Testway的最新版本。

 

Testway

 

Aster发布了Testway最新版本,把卓越化设计(DFX)理念贯穿于产品设计到产品交付的全过程。DFX以减少产品开发时间,降低测试成本和制造周期,同时提高产品的质量,可靠性和最终客户的满意度为目标。这将大大减少产品从设计到交付的周期,这是一个关键的成功因素。

 

TestWay是一种行之有效经过验证的解决方案,被世界各地的许多PCBA设计和制造商所使用,它提供了一种独特的方法来分析电气可测试性需求,并在设计周期的最早机会中评估与特定测试策略相一致的测试覆盖率。

 

  • 通过原理图捕获进行可测试性分析;

  • 电气规则检查自动化;

  • 测试点的优化;

  • 探头放置;

  • 覆盖率分析的集成平台;

  • 提供良率估计和测试策略成本模型;

  • 生成并优化检查和测试程序。

     

ASTER通过与客户紧密合作,充分了解客户面临的问题并提供创新的解决方案,开发了电气测试性分析、板查看和质量管理产品组合,以提高产品从设计到生产的成品率。提高良率管理需要深入了解电子产品生产的所有质量方面。这是通过在设计周期的早期进行全面的电气DfT分析来实现的,从而导致有效的测试分布和故障覆盖验证,同时结合主动的缺陷预防;从而提高产品的可靠性,确保有缺陷的产品不会交付给客户,从而提高竞争力和盈利能力。

 

作为电子制造业的国际盛会,NEPCON China 2021将聚焦于表面贴装技术(SMT)、焊锡与点胶、测试与测量、新型电子材料等设备与技术的展示,为5万多名来自消费电子及5G、通信、智能家居、物联网、汽车电子、半导体封装等热点行业和领域的EMS/OEM/ODM工厂的专业买家展示前沿产品和创新解决方案。预知更多ASTER科技详情,请至NEPCON China 2021现场(展位号:1N23)莅临参观。