2021年1月11日
封装工艺寿命试验台的设计要求
寿命试验条件是如何确定的呢?接下来由电子制造展小编为大家详细讲解一番。
电子产品在规定的工作及环境条件下,进行的工作试验称为寿命试验,又称耐久性试验。
随着LED生产技术水平的提高,产品的寿命和可靠性大为改观,LED的理论寿命为10万小时,如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。
根据LED器件的特点,经过对比试验和统计分析,终于规定了0.3×~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件:样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯;工作电流为30mA;环境条件为室温(25℃±5℃);试验周期为96小时、1000小时和5000小时三种。
寿命试验台由寿命试验单元板、台架和专用电源设备组成,可同时进行550组(4400只)LED寿命试验。根据寿命试验条件的要求,LED可采用并联和串联两种连接驱动形式。
并联连接形式:即将多个LED的正、负极分开并联连接,其特点是每个LED的工作电压一样,总电流为ΣIfn,为了实现每个LED的工作电流If一致,要求每个LED的正向电压也要一致。但是,器件之间特性参数存在一定差别,且LED的正向电压Vf随温度上升而下降,不同LED可能因为散热条件差别,而引发工作电流If的差别,散热条件较差的LED,温升较大,正向电压Vf下降也较大,造成工作电流If上升。虽然可以通过加入串联电阻限流减轻上述现象,但存在线路复杂、工作电流If差别较大、不能适用不同VF的LED等缺点,因此不宜采用并联连接驱动形式。
串联连接形式:即将多个LED的正极对负极连接成串,其优点通过每个LED的工作电流一样,一般应串入限流电阻R,如图二为单串电路,当出现一个LED开路时,将导致这串8个LED熄灭,从原理上LED芯片开路的可能性很小。我们认为寿命试验的LED,以恒流驱动和串联连接的工作方式为佳。采用常见78系列电源电路IC构成的LED恒流驱动线路,其特点是成本低、结构简单、可靠性高;通过调整电位器阻值,即可方便调整恒流电流;适用电源电压范围大,驱动电流较精确稳定,电源电压变化影响较小。
我们以电路为基本路线,并联构成寿命试验单元板,每一单元板可同时进行11组(88只)LED寿命试验。台架为一般标准组合式货架,经过合理布线,使每一单元板可容易加载和卸载,实现在线操作。专用电源设备,输出为5路直流36V安全电压,负载能力为5A,其中2路具有微电脑定时控制功能,可自动开启或关闭,5路输入、输出分别指示。
来源:网络
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