2021年1月11日
封装工艺寿命试验台的设计要求
寿命试验条件是如何确定的呢？接下来由电子制造展小编为大家详细讲解一番。
电子产品在规定的工作及环境条件下，进行的工作试验称为寿命试验，又称耐久性试验。
随着LED生产技术水平的提高，产品的寿命和可靠性大为改观，LED的理论寿命为10万小时，如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验，很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价，而我们试验的主要目的是，通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况，进而推断其寿命。
根据LED器件的特点，经过对比试验和统计分析，终于规定了0.3×～0.3mm2以下芯片的寿命试验条件：样品随机抽取，数量为8～10粒芯片，制成ф5单灯；工作电流为30mA；环境条件为室温(25℃±5℃)；试验周期为96小时、1000小时和5000小时三种。
寿命试验台由寿命试验单元板、台架和专用电源设备组成，可同时进行550组(4400只)LED寿命试验。根据寿命试验条件的要求，LED可采用并联和串联两种连接驱动形式。
并联连接形式：即将多个LED的正、负极分开并联连接，其特点是每个LED的工作电压一样，总电流为ΣIfn，为了实现每个LED的工作电流If一致，要求每个LED的正向电压也要一致。但是，器件之间特性参数存在一定差别，且LED的正向电压Vf随温度上升而下降，不同LED可能因为散热条件差别，而引发工作电流If的差别，散热条件较差的LED，温升较大，正向电压Vf下降也较大，造成工作电流If上升。虽然可以通过加入串联电阻限流减轻上述现象，但存在线路复杂、工作电流If差别较大、不能适用不同VF的LED等缺点，因此不宜采用并联连接驱动形式。
串联连接形式：即将多个LED的正极对负极连接成串，其优点通过每个LED的工作电流一样，一般应串入限流电阻R，如图二为单串电路，当出现一个LED开路时，将导致这串8个LED熄灭，从原理上LED芯片开路的可能性很小。我们认为寿命试验的LED，以恒流驱动和串联连接的工作方式为佳。采用常见78系列电源电路IC构成的LED恒流驱动线路，其特点是成本低、结构简单、可靠性高;通过调整电位器阻值，即可方便调整恒流电流;适用电源电压范围大，驱动电流较精确稳定，电源电压变化影响较小。
我们以电路为基本路线，并联构成寿命试验单元板，每一单元板可同时进行11组(88只)LED寿命试验。台架为一般标准组合式货架，经过合理布线，使每一单元板可容易加载和卸载，实现在线操作。专用电源设备，输出为5路直流36V安全电压，负载能力为5A，其中2路具有微电脑定时控制功能，可自动开启或关闭，5路输入、输出分别指示。
来源：网络
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